한국표준과학연구원(KRISS) 표면분석 연구팀이 30일 박막조성분석 장비인 XPS를 활용해 CIGS(구리·인듐·갈륨·셀레늄) 조성분석을 실시하고 있다./사진제공=한국표준과학연구원