이재용 책임연구원(박사)가 레이저 간섭법을 이용한 웨이퍼 두께·형상 측정표준시스템을 이용해 웨이퍼의 두께 분포와 형상을 측정하고 있다. /사진제공=한국표준과학연구원

강주식 한국표준과학연구원 책임연구원(박사) /사진제공=한국표준과학연구원

이재용 한국표준과학연구원 책임연구원(박사) /사진제공=한국표준과학연구원