일반적으로 액정은 손쉬운 배향 제어, 빠른 반응속도, 이방적인 광학 특성을 갖고 있어 액정표시장치(LCD)나 광학 센서 등에 사용된다. 이 때 물질 특성 상 액정의 결함은 불가피하게 발생한다.
윤동기 KAIST 나노과학기술대학원 교수 연구팀이 액정의 결함이 온도에 따라 변화하는 과정을 규명했다고 1일 발표했다.
윤 교수 연구팀은 결함의 구조를 이해하고 형성 원리를 명확하게 규명하는 기초연구에 집중했다. 액정 결함의 형태 전이를 세밀하게 직접적으로 관찰한 것은 이번 연구가 처음이다. 액정 결함은 블랙홀과 같은 위상학적 현상과 비슷한 구조를 갖기 때문에 우주의 원리를 연구하는 데 도움이 될 것으로 기대된다.
김민준 박사가 1저자로 참여한 이번 연구 결과는 국제 학술지 ‘네이처 커뮤니케이션즈 5월 30일자 온라인 판에 게재됐다. 이번 연구는 미래창조과학부와 한국연구재단이 추진하는 미래유망융합기술파이오니어사업과 신진연구지원사업의 지원으로 수행됐다.
/문병도기자 do@sedaily.com
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