이 방법은 평판 패널을 검사하는 것에 대한 것으로, 각 화소의 회로 패턴을 검사하는 방법인 박막트랜지스터의 전극라인과 신호라인의 선폭 또는 패턴 간격 등의 치수를 측정, 불량 여부를 검사하는 것이다.
특허권 취득일자는 6일이다.
/박시진기자 see1205@sedaily.com
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인텍플러스, 평판 패널 검사방법 미국 특허권 취득
입력2016-07-08 09:43:58
수정
2016.07.08 09:43:58
박시진 기자
인텍플러스(064290)가 평판 패널 검사방법에 대해 미국 특허권을 취득했다고 8일 공시했다.
이 방법은 평판 패널을 검사하는 것에 대한 것으로, 각 화소의 회로 패턴을 검사하는 방법인 박막트랜지스터의 전극라인과 신호라인의 선폭 또는 패턴 간격 등의 치수를 측정, 불량 여부를 검사하는 것이다.
특허권 취득일자는 6일이다.
/박시진기자 see1205@sedaily.com
이 방법은 평판 패널을 검사하는 것에 대한 것으로, 각 화소의 회로 패턴을 검사하는 방법인 박막트랜지스터의 전극라인과 신호라인의 선폭 또는 패턴 간격 등의 치수를 측정, 불량 여부를 검사하는 것이다.
특허권 취득일자는 6일이다.
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